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共聚焦拉曼成像系統(tǒng) AUT-XperRAM RF

共聚焦拉曼成像系統(tǒng)AUT-XperRAM RF 是一款二合一儀器，專注于增強(qiáng)材料分析。該儀器具有拉曼光譜模塊和 TRPL 測(cè)量模塊，兩者都提供了確定材料特性的有用技術(shù)。很容易注意到，該儀器是AUT-XperRAM S 系列和FLIM 的組合。

使用 AUT-XperRF，您可以享受 AUT-XperRAM S 系列的所有高效功能，其中包括高性能光譜儀和檢測(cè)器以及廣泛而快速的掃描器模塊。對(duì)于 TRPL 測(cè)量模塊，我們與來(lái)自德國(guó)柏林公司 PicoQuant 合作，以大限度地提高測(cè)量質(zhì)量。

AUT-XperRAM RF 又名 AUT-XperRAM Ultimate
光纖耦合端口是可選部件。

共聚焦拉曼成像系統(tǒng) AUT-XperRAM RF 系列能為您做什么？

拉曼光譜單點(diǎn)采集	光致發(fā)光（PL）數(shù)據(jù)采集
拉曼mapping圖像采集	電致發(fā)光（EL）數(shù)據(jù)采集
時(shí)間分辨光致發(fā)光（TRPL）數(shù)據(jù)采集從生物學(xué)/醫(yī)學(xué)研究到太陽(yáng)能電池效率分析，您可以利用拉曼、TRPL、PL 和 EL 的數(shù)據(jù)，應(yīng)用范圍很廣。

TRPL？tcspc？FLIM？

時(shí)間分辨光致發(fā)光（TRPL）是一個(gè)通用術(shù)語(yǔ)，而時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù) （TCSPC）或熒光壽命成像（FLIm）是實(shí)現(xiàn) TRPL 的特殊技術(shù)。
熒光壽命成像顯微鏡（FLIM）是一種成像儀器類型，用于根據(jù)熒光樣品中熒光的指數(shù)衰減率的差異生成圖像。
熒光壽命成像產(chǎn)生的圖像，每個(gè)像素的強(qiáng)度由 τ 確定，這使研究人員能夠觀察具有不同熒光衰減率的材料之間的對(duì)比度，并且還生成顯示其他衰減路徑變化的圖像。
熒光壽命可以通過使用脈沖源在時(shí)域中確定。當(dāng)一組熒光基團(tuán)被超短或三角形光脈沖激發(fā)時(shí)，時(shí)間分辨熒光將呈指數(shù)衰減。

時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù) （TCSPC）通常用作測(cè)量方法，因?yàn)樗a(bǔ)償了源強(qiáng)度和單光子脈沖幅度的變化。更具體地說(shuō)，TCSPC記錄了單光子雪崩光電二極管（SPAD）通常相對(duì)于激發(fā)激光脈沖檢測(cè)到單個(gè)光子的時(shí)間。
對(duì)多個(gè)激光脈沖重復(fù)記錄，在記錄足夠多的事件后，研究人員能夠構(gòu)建所有這些記錄時(shí)間點(diǎn)的事件數(shù)量的直方圖。然后，可以將該直方圖擬合到包含感興趣的指數(shù)壽命衰減函數(shù)的指數(shù)函數(shù)，并相應(yīng)地提取壽命參數(shù)。

拉曼？

拉曼光譜是一種光散射技術(shù)。拉曼光譜分析以不同波長(zhǎng)（或顏色）散射的少量光（激光），這取決于分析物的化學(xué)結(jié)構(gòu)。
通過分析拉曼光譜，我們可以確定它是什么類型的材料，因此我們簡(jiǎn)單地將拉曼光譜（以圖形格式實(shí)現(xiàn)的拉曼數(shù)據(jù)）稱為材料的指紋。分析與拉曼光譜相對(duì)應(yīng)的拉曼圖像，也是需要的拉曼分析技術(shù)。
TRPL數(shù)據(jù)和拉曼數(shù)據(jù)顯示相關(guān)性。有關(guān)兩種不同技術(shù)之間的數(shù)據(jù)比較，請(qǐng)參見下圖。以下單個(gè)口腔上皮細(xì)胞數(shù)據(jù)取自XperRF。

為什么 AUT-XperRF 可以提升您的 TRPL 水平

實(shí)力雄厚的TCSPC模塊供應(yīng)商

AUT-XperRF 配備了一個(gè)時(shí)間標(biāo)記電子設(shè)備（作為 TCSPC 模塊）和一套由 PicoQuant 提供的皮秒脈沖二極管激光器和驅(qū)動(dòng)器，以實(shí)現(xiàn)強(qiáng)大的 TRPL 測(cè)試環(huán)境。

可靠且超快速的 TCSPC 模塊

借助可選的雙通道時(shí)間標(biāo)記電子設(shè)備，僅需10 秒的 TRPL 時(shí)間您就可以得到 50 μm x 50 μm 的掃描區(qū)域。請(qǐng)看下面的視頻剪輯。

為什么共聚焦拉曼成像系統(tǒng)AUT-XperRAM RF 系列可以提升您的拉曼優(yōu)勢(shì)

高拉曼峰值效率 = 精確的拉曼數(shù)據(jù)

與大多數(shù)拉曼制造商不同，我們?cè)诶庾V儀中采用了透射光柵，將效率提高到90%以上。

AUT-XperRAM RF 系列（XPE200）的光譜儀與 ANDOR 的 OEM ccd 相結(jié)合，也是為高效率而設(shè)計(jì)的。

有效像素 2000 x 256 像素
像素大?。?5 x 15 pm

水平像素?cái)?shù)越高，光譜分辨率就越高。

寬波長(zhǎng)范圍內(nèi)的靈敏度均勻

低光譜信號(hào)？沒問題！

冷卻溫度可達(dá) 50°C。

降低對(duì)光譜的影響，背景噪聲（光譜靜態(tài)）

激光掃描范圍更廣、速度更快

我們使用單個(gè)Galvo反射鏡實(shí)現(xiàn)了寬廣、快速的激光掃描功能，甚至可以大限度地提高我們的掃描效率，并幫助您看到更大范圍
的拉曼數(shù)據(jù)圖片。
振鏡模塊，在不移動(dòng)樣品的情況下可實(shí)現(xiàn)大面積二維Mapping，此外，配備的cmos 相機(jī)可以對(duì)樣品進(jìn)行實(shí)時(shí)觀測(cè)。

為什么要進(jìn)行激光掃描？它降低了生產(chǎn)成本，同時(shí)保持了非常好的性能。

	機(jī)械平臺(tái)掃描	壓電平臺(tái)掃描	激光掃描
定位精度	低于（~ 1um）	高于（~ 1um）	高于（~ 1um）
掃描尺寸	無(wú)限制	100 um ~ 200 μm	200 um（40 X） 400 um (20 X)
mapping時(shí)樣品是否移動(dòng)	是	是	否

200 um x 200 um 大范圍掃描（使用 40X 物鏡）
定位精度高（20 nm）
經(jīng)濟(jì)高效的掃描機(jī)制
易于維護(hù)
無(wú)樣品移動(dòng) →大型和重型樣品mapping

還是不相信？請(qǐng)觀看下面的視頻，了解AUT-XperRAM RF 系列的實(shí)際掃描過程。

高信噪比 = 出色的拉曼光譜分辨率

為了使 AUT-XperRAM S 系列（XperRF的拉曼模塊）產(chǎn)生的拉曼數(shù)據(jù)獲得更好的光譜分辨率，該系統(tǒng)通過透射光柵和盡可能少的光學(xué)元件數(shù)量

實(shí)現(xiàn)高信噪比。

儀器： AUT-XperRAM S 系列
樣品：硅晶片
激發(fā)波長(zhǎng)：532 納米
物鏡 : 40x
采集時(shí)間：0.5 秒
樣品功率：1.4 mW

VPH 光柵和少量光學(xué)器件

→高通量和高信噪比

→更好的拉曼光譜分辨率

易于定制和系統(tǒng)靈活性

AUT-XperRAM RF提供多種拉曼系統(tǒng)選項(xiàng)，以滿足您的研究需求。